共通編　近接スイッチとは

4. 検査と試験

近接スイッチの性能、品質に関する試験方法、判定基準は、JIS C 8201-5-2に規定されており、これに準拠している。

ただし、1999年以前に開発された近接スイッチはこの限りではない。

形式試験は、JIS規格に適合していることを検証する試験であり、項目は以下のとおりである。

この項では各近接スイッチで共通した試験であるノイズ性試験について示す。

近接スイッチのノイズ性試験は、JIS規格でEMC（電磁適合性）として耐ノイズ性（EMI）、ノイズ放射の制限（EMS）ともに規格化されており、項目は以下のとおりである。

（a）耐ノイズ性（EMI）としては以下の3項目が規格化されている。

<1>放射電磁界強度（JIS C 1000-4-3による）
　　　最小試験電界：3V/m、
　　　周波数帯域：80MHz～1000MHz
<2>静電気放電（ESD）強度（JIS C 1000-4-2による）
　　　金属エンクロージャ（筐体＝ケース）をもった近接スイッチの場合、接触放電方式によって最小試験電圧4kV。
<3>金属エンクロージャをもっていない近接スイッチの場合、エアギャップ放電方式によって最小試験電圧8kV。

（b）ファーストトランジェント強度（JIS C 1000-4-4による）

＜表10　ノイズ放射の制限＞
ポート	周波数範囲	限界値	規格
エンクロージャ	30Mhz～230Mhz 230Mhz～1000Mhz	10mの距離で測定して40ｄB（μV/m）準ピーク値 10mの距離で測定して47ｄB（μV/m）準ピーク値	CISPR11
AC電源	0.15Mhz～0.50Mhz 0.50Mhz～30Mhz	79ｄB（μV/m）準ピーク値 66ｄB（μV/m）平均値 73ｄB（μV/m）準ピーク値 60ｄB（μV/m）平均値	CISPR11