オムロン独自撮像技術で実現
モノづくり現場を革新する
高精度 / 高効率 AOI

検査に求められる
課題を解決する、
オムロンの3つの視点

  • アイコン見過ぎ見逃しゼロ
  • アイコンプログラミング工数/スキル最小化
  • アイコン良品スループット最大化

VT-Z/Sシリーズが統一プラットフォームでフルラインアップ

  • VT-S1080
  • VT-S1040
  • VT-Z600

独自撮像技術 
MDMC 照明+MPS
特許取得済見過ぎ見逃しゼロ

オムロン独自のMDMC(Multi Direction/Multi Color)照明と、新モアレ技術MPS(Micro Phase Shift)を済搭載し、確かな検査性能で高いロバスト性を実現します。

* 外乱(影・二次反射などのノイズ、設定外の不良形状、あらゆる不確定要素)に対して強く、検査結果の判定に影響がないこと。

VT-Z/Sシリーズが統一プラットフォームでフルラインアップ

高精度形状復元見過ぎ見逃しゼロ

独自撮像と計測技術により得られた情報を高精度に再構成することで、より実物に近い形状復元を可能にします。

二次反射の影響を最小化

QFN

その他のサンプル画像はこちら

斜視カメラ搭載により、コネクタの根元も鮮明に見過ぎ見逃しゼロ

コネクタの根本も鮮明に

検査の精度をより高めるAI見過ぎ見逃しゼロ

3D形状復元

形状

既存アルゴリズムの一部をAIモデルに置き換え、ロバスト性を向上

異物検査

形状

ランドやレジスト等のばらつきにで発生する見過ぎを抑え、従来タクトで検査を実現

OCR検査

形状

類似の文字、フォントや印字精度による見過ぎを抑え、読み取り精度向上

国際基準準拠の
定量検査プログラミング工数/スキル最小化

* IATF(ISO/TS)16949、IPC品質基準など

規格に準拠した値を検査基準としてダイレクトに適用しているので、熟練者のスキルに依存することがありません。

VT-Z/Sシリーズが統一プラットフォームでフルラインアップ

設備監視/予兆保全による
止まらない生産ラインの実現へ良品スループット最大化

オムロン制御技術を搭載し、検査装置内部のあらゆる情報機器からリアルタイムに情報収集が可能。それにより設備の状態を見える化し、予兆保全、品質トレーサビリティへの活用が可能となります。

設備監視/予兆保全

リフロー後品質を起点とした不良要因分析 Q-up NAVI良品スループット最大化

変動する生産の4M 「Man(作業者)」「Machine(機械設備)」「Material(原材料)」「Method(作業方法)」に対応し、良品を作り続けるために先ず、検査装置の品質情報を起点とし、各設備データをひもづけ、分析し不良要因の特定を支援します。

マウンタ連携良品スループット最大化

マウンタ連携によるラインオペレーションの効率化、品質改善、稼働率向上を実現する機能の一例をご紹介

自動段取替え

  • ・マウンタ連携により、検査プログラムが自動で切り替え
  • ・段取り時間の大幅削減!
マウンタ連携

* 対応しているメーカー:パナソニック コネクト株式会社(iLNB)株式会社FUJI(Nexim)
 連携には、各メーカー毎のライセンスが必要です。

ラインシステム連携

  • ・FSFモバイルコンダクタ対応
  • ・ラインオペレータの迅速な対応でダウンタイム削減
マウンタ連携

* 各装置の情報を監視・通知する株式会社FUJIのシステムです。

検査の垂直立ち上げ良品スループット最大化

マウンタデータからのプログラムコンバートにより、検査データの作成時間が大幅に短縮

VT-S530

印刷/マウント後
検査の"適正化"を
支援 Q-up opti良品スループット最大化

中間工程の検査結果を監視し、検査基準を自動計算することで、「印実不良をマウント後で確実にNG検出しつつ、見過ぎは増やしたくない」や「セルフアライメントの効果を踏まえてマウント後検査を"適正に"したい」といった直行率と高品質維持を支援します。
*印刷検査の検査基準最適化には、CKD社のライセンスが必要です。

独自撮像技術 
MDMC 照明+MPS(オプション)*1
特許取得済見過ぎ見逃しゼロ

オムロン独自のMDMC(Multi Direction/Multi Color)照明と、新モアレ技術MPS(Micro Phase Shift)を済搭載し、確かな検査性能で高いロバスト性*2を実現します。

*1. MPSは、VT-S1040 はオプションです。
*2. 外乱(影・二次反射などのノイズ、設定外の不良形状、あらゆる不確定要素)に対して強く、検査結果の判定に影響がないこと。

VT-Z/Sシリーズが統一プラットフォームでフルラインアップ

高精度形状復元見過ぎ見逃しゼロ

独自撮像と計測技術により得られた情報を高精度に再構成することで、より実物に近い形状復元を可能にします。

二次反射の影響を最小化

QFN

その他のサンプル画像はこちら

検査の精度をより高めるAI見過ぎ見逃しゼロ

3D形状復元

形状

既存アルゴリズムの一部をAIモデルに置き換え、ロバスト性を向上

異物検査

形状

ランドやレジスト等のばらつきにで発生する見過ぎを抑え、従来タクトで検査を実現

OCR検査

形状

類似の文字、フォントや印字精度による見過ぎを抑え、読み取り精度向上

国際基準準拠の
定量検査プログラミング工数/スキル最小化

* IATF(ISO/TS)16949、IPC品質基準など

規格に準拠した値を検査基準としてダイレクトに適用しているので、熟練者のスキルに依存することがありません。

VT-Z/Sシリーズが統一プラットフォームでフルラインアップ

設備監視/予兆保全による
止まらない生産ラインの実現へ良品スループット最大化

オムロン制御技術を搭載し、検査装置内部のあらゆる情報機器からリアルタイムに情報収集が可能。それにより設備の状態を見える化し、予兆保全、品質トレーサビリティへの活用が可能となります。

設備監視/予兆保全

リフロー後品質を起点とした不良要因分析 Q-up NAVI良品スループット最大化

変動する生産の4M 「Man(作業者)」「Machine(機械設備)」「Material(原材料)」「Method(作業方法)」に対応し、良品を作り続けるために先ず、検査装置の品質情報を起点とし、各設備データをひもづけ、分析し不良要因の特定を支援します。

マウンタ連携良品スループット最大化

マウンタ連携によるラインオペレーションの効率化、品質改善、稼働率向上を実現する機能の一例をご紹介

自動段取替え

  • ・マウンタ連携により、検査プログラムが自動で切り替え
  • ・段取り時間の大幅削減!
マウンタ連携

* 対応しているメーカー:パナソニック コネクト株式会社(iLNB)株式会社FUJI(Nexim)
 連携には、各メーカー毎のライセンスが必要です。

ラインシステム連携

  • ・FSFモバイルコンダクタ対応
  • ・ラインオペレータの迅速な対応でダウンタイム削減
マウンタ連携

* 各装置の情報を監視・通知する株式会社FUJIのシステムです。

検査の垂直立ち上げ良品スループット最大化

マウンタデータからのプログラムコンバートにより、検査データの作成時間が大幅に短縮

VT-S530

印刷/マウント後
検査の"適正化"を
支援 Q-up opti良品スループット最大化

中間工程の検査結果を監視し、検査基準を自動計算することで、「印実不良をマウント後で確実にNG検出しつつ、見過ぎは増やしたくない」や「セルフアライメントの効果を踏まえてマウント後検査を"適正に"したい」といった直行率と高品質維持を支援します。
*印刷検査の検査基準最適化には、CKD社のライセンスが必要です。

独自撮像技術 
MDMC 照明
特許取得済見過ぎ見逃しゼロ

オムロン独自のMDMC(Multi Direction/Multi Color)照明を済搭載し、確かな検査性能で高いロバスト性を実現します。

* 外乱(影・二次反射などのノイズ、設定外の不良形状、あらゆる不確定要素)に対して強く、検査結果の判定に影響がないこと。

VT-Z/Sシリーズが統一プラットフォームでフルラインアップ
VT-Z/Sシリーズが統一プラットフォームでフルラインアップ

高精度形状復元見過ぎ見逃しゼロ

独自撮像と計測技術により得られた情報を高精度に再構成することで、より実物に近い形状復元を可能にします。

二次反射の影響を最小化

QFN

その他のサンプル画像はこちら

検査の精度をより高めるAI見過ぎ見逃しゼロ

3D形状復元

形状

既存アルゴリズムの一部をAIモデルに置き換え、ロバスト性を向上

異物検査

形状

ランドやレジスト等のばらつきにで発生する見過ぎを抑え、従来タクトで検査を実現

OCR検査

形状

類似の文字、フォントや印字精度による見過ぎを抑え、読み取り精度向上

国際基準準拠の
定量検査プログラミング工数/スキル最小化

* IATF(ISO/TS)16949、IPC品質基準など

規格に準拠した値を検査基準としてダイレクトに適用しているので、熟練者のスキルに依存することがありません。

VT-Z/Sシリーズが統一プラットフォームでフルラインアップ

設備監視/予兆保全による
止まらない生産ラインの実現へ良品スループット最大化

オムロン制御技術を搭載し、検査装置内部のあらゆる情報機器からリアルタイムに情報収集が可能。それにより設備の状態を見える化し、予兆保全、品質トレーサビリティへの活用が可能となります。

設備監視/予兆保全

リフロー後品質を起点とした不良要因分析 Q-up NAVI良品スループット最大化

変動する生産の4M 「Man(作業者)」「Machine(機械設備)」「Material(原材料)」「Method(作業方法)」に対応し、良品を作り続けるために先ず、検査装置の品質情報を起点とし、各設備データをひもづけ、分析し不良要因の特定を支援します。

マウンタ連携良品スループット最大化

マウンタ連携によるラインオペレーションの効率化、品質改善、稼働率向上を実現する機能の一例をご紹介

自動段取替え

  • ・マウンタ連携により、検査プログラムが自動で切り替え
  • ・段取り時間の大幅削減!
マウンタ連携

* 対応しているメーカー:パナソニック コネクト株式会社(iLNB)株式会社FUJI(Nexim)
 連携には、各メーカー毎のライセンスが必要です。

ラインシステム連携

  • ・FSFモバイルコンダクタ対応
  • ・ラインオペレータの迅速な対応でダウンタイム削減
マウンタ連携

* 各装置の情報を監視・通知する株式会社FUJIのシステムです。

検査の垂直立ち上げ良品スループット最大化

マウンタデータからのプログラムコンバートにより、検査データの作成時間が大幅に短縮

VT-S530

印刷/マウント後
検査の"適正化"を
支援 Q-up opti良品スループット最大化

中間工程の検査結果を監視し、検査基準を自動計算することで、「印実不良をマウント後で確実にNG検出しつつ、見過ぎは増やしたくない」や「セルフアライメントの効果を踏まえてマウント後検査を"適正に"したい」といった直行率と高品質維持を支援します。
*印刷検査の検査基準最適化には、CKD社のライセンスが必要です。