検査サンプル画像
基板外観検査装置(AOI)
3D検査画像/形状復元 チップ 0603サイズ

3D検査画像/形状復元 QFP

リード先端部のはんだヌレ上がり不足を検出
*株式会社東海理化様 ご提供サンプル
3D検査画像/形状復元 リード部品

リード部のはんだヌレ上がり形状の復元
狭ピッチのリード部品のはんだ形状も安定した検査が可能
*株式会社東海理化様 ご提供サンプル
二次反射によるノイズ低減

一般的な撮像
新撮像
二次反射の影響を除外し、正確な検査が可能
*株式会社JVCケンウッド様 ご提供サンプル
大きな部品による影の影響を低減

隣接する背の高い部品のによる影の影響を除外し、正確な検査が可能
斜視検査

コネクタ根本のブリッジ検出
部品ひさし奥のリード根本まで検出可能
*株式会社東海理化様 ご提供サンプル
文字検査

照明パターンによる文字認識向上
新照明技術による最適な抽出により、安定した文字検査が可能
高速CT型X線自動検査装置(AXI)
挿入部品
はんだ充填不足
プレスフィットコネクタの挿入状態なども検査可能
撮像イメージ(BGA)
レイヤーごとのイメージ
気になる箇所のレイヤーごとに画像を確認可能
LGA
気になる箇所、レイヤーでボイドの確認が可能
寸法検査装置(AVI)
LED基板

CMOSセンサ基板

バッテリー

パワーモジュール
