検査サンプル画像
基板外観検査装置（AOI）
３D検査画像/形状復元 チップ 0603サイズ
３D検査画像/形状復元 QFP
リード先端部のはんだヌレ上がり不足を検出
＊株式会社東海理化様 ご提供サンプル
３D検査画像/形状復元 リード部品
リード部のはんだヌレ上がり形状の復元
狭ピッチのリード部品のはんだ形状も安定した検査が可能
＊株式会社東海理化様 ご提供サンプル
二次反射によるノイズ低減
一般的な撮像
新撮像
二次反射の影響を除外し、正確な検査が可能
＊株式会社JVCケンウッド様 ご提供サンプル
大きな部品による影の影響を低減
隣接する背の高い部品のによる影の影響を除外し、正確な検査が可能
斜視検査
コネクタ根本のブリッジ検出
部品ひさし奥のリード根本まで検出可能
＊株式会社東海理化様 ご提供サンプル
文字検査
照明パターンによる文字認識向上
新照明技術による最適な抽出により、安定した文字検査が可能
高速CT型X線自動検査装置(AXI)
挿入部品
はんだ充填不足
プレスフィットコネクタの挿入状態なども検査可能
撮像イメージ（BGA）
レイヤーごとのイメージ
気になる箇所のレイヤーごとに画像を確認可能
LGA
気になる箇所、レイヤーでボイドの確認が可能
寸法検査装置(AVI)
LED基板
CMOSセンサ基板
バッテリー
パワーモジュール
