検査サンプル画像

基板外観検査装置(AOI)

3D検査画像/形状復元 チップ 0603サイズ

3D検査画像/形状復元 QFP

リード先端部のはんだヌレ上がり不足を検出
*株式会社東海理化様 ご提供サンプル

3D検査画像/形状復元 リード部品

リード部のはんだヌレ上がり形状の復元
狭ピッチのリード部品のはんだ形状も安定した検査が可能
*株式会社東海理化様 ご提供サンプル

二次反射によるノイズ低減

一般的な撮像

新撮像
二次反射の影響を除外し、正確な検査が可能
*株式会社JVCケンウッド様 ご提供サンプル

大きな部品による影の影響を低減

隣接する背の高い部品のによる影の影響を除外し、正確な検査が可能

斜視検査

コネクタ根本のブリッジ検出
部品ひさし奥のリード根本まで検出可能
*株式会社東海理化様 ご提供サンプル

文字検査

照明パターンによる文字認識向上
新照明技術による最適な抽出により、安定した文字検査が可能

高速CT型X線自動検査装置(AXI)

挿入部品

はんだ充填不足
プレスフィットコネクタの挿入状態なども検査可能

撮像イメージ(BGA)

レイヤーごとのイメージ
気になる箇所のレイヤーごとに画像を確認可能

LGA

気になる箇所、レイヤーでボイドの確認が可能

寸法検査装置(AVI)

LED基板

CMOSセンサ基板

バッテリー

パワーモジュール