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基板外観検査装置(AOI)検査サンプル画像

高精度形状復元事例

二次反射によるノイズを低減 大きな部品による影の影響を低減
微細部品も安定的に検査可能 コネクタの根元も鮮明に
掲載の画像はお客様基板の検証による画像です

チップ各種不良

不良品 不良品
良品 良品

SOP/QFPヌレ不良

判別の難しかった微妙な不良

不良品 不良品
良品 良品

TR表裏反転

不良品 不良品
良品 良品

基板外観検査装置(AOI)、高速CT型X線自動検査装置(AXI)、寸法検査装置(AVI)
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オムロン株式会社 検査システム事業部
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