エレクトロテストジャパン2020 出展レポート

エレクトロテストジャパン2020 出展レポート

“ZERO DEFECT~不良をつくらない~”へのお客様とオムロンの挑戦

2020年1月15日~17日、東京ビッグサイトにてアジア最大級のエレクトロニクス開発・実装展「ネプコン ジャパン2020」が開催されました。
オムロンは「ネプコン ジャパン2020」を構成する7展の1つである、エレクトロニクス検査・試験・測定展「エレクトロテスト ジャパン」へ、昨年に続き“ZERO DEFECT(ゼロディフェクト)~不良をつくらない~”をコンセプトに掲げ、オムロン 検査システム事業部とお客様が“ZERO DEFECT”に挑戦する姿をご紹介しました。

オムロン 検査システム事業部では、これからもお客様とともに課題解決の事例を積み重ね、その事例をヒントにさらなるお客様との課題解決に取り組んでまいります。
ご多忙の中、当社ブースにご来場いただきました皆様に心より感謝申し上げます。誠にありがとうございました。