エレクトロテストジャパン2020 出展レポート
エレクトロテストジャパン2020 出展レポート
“ZERO DEFECT～不良をつくらない～”へのお客様とオムロンの挑戦
2020年1月15日～17日、東京ビッグサイトにてアジア最大級のエレクトロニクス開発・実装展「ネプコン ジャパン2020」が開催されました。
オムロンは「ネプコン ジャパン2020」を構成する7展の1つである、エレクトロニクス検査・試験・測定展「エレクトロテスト ジャパン」へ、昨年に続き“ZERO DEFECT（ゼロディフェクト）～不良をつくらない～”をコンセプトに掲げ、オムロン 検査システム事業部とお客様が“ZERO DEFECT”に挑戦する姿をご紹介しました。
「不良」を流出しないための検査システムから
「不良」をつくらないライン構築へ、お客様4社の挑戦
ブース中央のメインステージでは、オムロンの検査システムを活用し、「不良」流出を防止する取り組みからさらにその先の、「不良」そのものをつくらないライン構築に挑戦される4社の事例をご紹介しました。
事例 1
ジャパン･イーエム･ソリューションズ株式会社様
2014年「最終工程に不良を流さない」という考えのもと、「印刷後」「実装後」「リフロー後」「X線」の各工程検査を整備するSMTラインを構築されました。
究極まで「不良率」の抑制に成功し、さらに生産性や品質を向上しながら、コスト削減に挑戦される取り組みをご紹介しました。
事例 2
株式会社ホックス様
「経営のスリム化および製造の合理化」と「製品の完成度（＝高品質）」の両立へのチャレンジを公言されるホックス様では、品質の作り込みが難しいとされるLGA*の、製造条件の早期確保と全数保証の実現に向けたX線検査装置運用の事例をご紹介しました。
*LGA：Land Grid Array 基板表面への実装部品の一種
事例 3
株式会社ハイブリッド様
2018年、オムロンの3D基板外観検査装置（VT-S730-H）の導入に合わせて、遠隔地のお客様向けに検査システム運用のサポートを目的とした、オムロンのリモートサポートサービスの運用をスタート。
SMT工程内で「良品を作り込むための仕組みづくり」を重要視し、高い品質を維持しながら迅速な納期要求に応えるためのハイブリッド様の取り組みをご紹介しました。
事例 4
シークス株式会社様
シークス様では、お客様の品質要求に応え、オムロンとの協業にて、2017年より製品の寸法検査を自動化し、全数検査を実現する新製品を開発することが決まりました。2018年12月、オムロンから「寸法検査装置VT-M121」を発売するまで、技術検証や実運用での試行など多くのご協力をいただきました、シークス相模原工場様の導入事例をご紹介しました。
オムロン自社工場でのAIを活用した品質改善取り組みのご紹介
アプリケーション新提案として、不良予測が難しい「局所はんだ」工程において、オムロンの技術を活用し“不良をつくらない”ための取り組み事例を紹介しました。“AIを活用した品質改善”の取り組みとして、多くのお客様と意見交換させていただくことができました。
お客様事例に登場した各種検査システムをデモンストレーション
寸法検査装置 VT-M121 側面パネルをスケルトンにし、オムロンの最新技術を搭載した装置内部の機構をご覧いただきました。
高速CT型X線自動検査装置 VT-X750（写真左）、3D基板外観検査装置VT-S530及び『品質起点』の生産性向上支援ソフトウエアQ-up System（写真右）をご紹介しました。
【ご来場者様からのお声】
「来年は自社を是非（導入事例として）出演させてほしい」「導入されたお客様の“笑顔”がとても印象的でした」などのご感想をいただきました。
オムロン 検査システム事業部では、これからもお客様とともに課題解決の事例を積み重ね、その事例をヒントにさらなるお客様との課題解決に取り組んでまいります。ご多忙の中、当社ブースにご来場いただきました皆様に心より感謝申し上げます。誠にありがとうございました。
