半導体の
検査ソリューション

SEMICON JAPAN 2023

近年、半導体の進化がさらに加速していることで、検査難度が上がり、検査要求は高まっています。特に、ヘテロジニアス・コンピューティングの時代の到来とともに、チップレット化、３D実装技術に注目が集まっています。従来の検査装置では、検査範囲や精度に限界が出てきました。

オムロンは様々な検査装置を提供しています。CTスキャン型3DX線自動検査装置や、光学自動外観検査装置のご紹介をさせていただきます。また、EV業界の市場規模の拡大と共に高まる、パワー半導体の品質要求に対して、製造工程における“インライン自動検査”（寸法検査/ＣＴスキャン型３ＤＸ線検査）を通して効率的な「良品モノづくり」に貢献致します。