事例番号
ap10033
情報更新

装置内狭小スペースでの電子部品の”誤検出”削減

現場の課題

装置の小型化で狭い場所(狭小スペース)での電子部品の検出が多くなっています。開口角60°の一般的なファイバユニット(ファイバヘッド)で検出していますが、光の回り込みで誤検出してしまうことがあり、その都度、装置が止まり生産性が低下しています。

改善の内容

【レンズ一体型(レンズイン)】のファイバユニット E32-LT/LD(ストレート型)E32-LT11N / LD11N / LR11NP(ナット型)で電子部品を安定検出します。
レンズを内蔵することで開口角は15°の狭視界となっており、狭い場所でも投光が回り込むことなく電子部品を安定して検出します。そのため、これまで頻発していた誤検出が低減し生産性が向上します。

  • 装置内狭小スペースでの電子部品の”誤検出”削減
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装置内狭小スペースでの電子部品の”誤検出”削減 装置内狭小スペースでの電子部品の”誤検出”削減

改善のポイント

レンズ一体型なので、レンズ脱落のリスクがなく、また、後付レンズのように取り付け時のトルク管理も不要で設置や保全の工数を削減できます。
ストレート型とナット型、また透過形、反射形、透明体検出用の回帰反射形(ナット型のみ)があり、設置スペースに合わせて選択できますので、設計自由度が高くなります。

事例はご参考ですので、「適合性等」については保証いたしかねます。詳細は免責事項をご覧ください。

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