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ネプコン ジャパン2018
オムロン出展ブースに
ご来場いただき、
ありがとうございました。

ネプコンジャパン2018 第35回エレクトロテストジャパン

2018年1月17日～1月19日
東京ビッグサイトにて開催

オムロン出展ブースへのご来場のお礼

2018年1月17日～1月19日 東京ビッグサイトにて開催されました。
ネプコン ジャパン2018「エレクトロテスト ジャパン」では、ご多忙にもかかわらず、
オムロン出展ブースにご来場いただき、誠にありがとうございました。
おかげをもちまして 盛況のうちに展示会を執り行うことができましたことを心よりお礼申し上げます。

出展概要

オムロンの高い制御技術とはんだの3D形状復元にこだわった検査装置、
そこから得られた定量的な品質情報を設備情報とひもづけることで実現した
『品質起点の生産性向上』をご提案。
オムロン自社工場でのその導入実績をお客様にご紹介致しました。

メインステージ

  • 形VT-X750

    業界最速※の自動検査スピードで、インライン全数全面検査を
    実現するAXI 高速CT型X線検査装置 形VT-X750をご紹介。
    ※2017年10月当社調べ

  • Q-up Auto

    各工程検査装置からの品質情報とマウンタからの設備情報を
    ひも付けし、設備の予兆保全や不良発生の未然防止を実現。
    『Q-up Auto』システム導入事例を弊社草津工場の事例にてご紹介。

  • 形VT-S530／形VT-S730シリーズ

    はんだ形状を復元、接合状態を総合的に検査する3D-SJI※
    形VT-Sシリーズをご紹介。
    ※SJI：Solder Joint Inspection

  • 自動計測検査装置（参考出展）

    新しい照明技術を使い、これまで難しかった目視検査工程の自動化をご提案。

  • グローバルサービスネットワーク／国内サポート体制

    グローバル主要5拠点のメーカーセールス／サービス体制および、
    充実の国内サポート体制（24時間365日サポート）をご紹介。

  • 出展社技術セミナー

    出展社技術セミナー（東-Aルームにて実施）
    『SMTにおける3D-SJI＋実装IoT活用による品質コスト最小化』に
    ついて、業界のトレンドと、最先端の技術について、またオムロンでの対応技術と、自社工場でのその導入実績をご紹介を致しました。
    多くのお客様にご参加いただき、お陰様で会場は満席となりました。