ページ先頭
Japan
ページ内のリンク
グローバルナビゲーションへ
本文へ
関連情報へ
このサイトの情報へ
ヘルプ(ご利用方法)
サイトマップ
OMRON IA Global
グローバルナビゲーション
Home
商品情報
テクニカルガイド
サポート
セミナ・イベント
販売ネットワーク
お知らせ・最新情報
オンラインストア
Home
>
商品情報
>
Q-Port
>
ソリューション事例一覧
>
業界別事例
>
半導体 工程管理業界
閲覧環境
ページ印刷
印刷推奨環境
半導体 工程管理
歩留まり率低減、生産データの見える化、ウエハの安定検出など半導体生産現場の工程管理改善に役立つ課題解決事例。
工程不良
【歪み検査】パッケージの歪み・高さ検査
自働化
【高さ測定】ICパッケージ封止前高さ測定
【位置決め】ウエハ外観検査装置の位置決め
【位置決め】ガラスウエハのノッチ位置検出
工場 見える化
【データ収集】生産設備の診断・見える化
【データ収集】製造装置の保守メンテ
【データ収集】生産データ常時記録
【データ収集】ロボットの立ち上げ調整
情報管理
【印字加工】トレイに並べたICパッケージへの印字
開発効率
【データ収集】環境試験の温度測定、電圧測定
【データ収集】(基板)電子部品の特性評価
歩留まり
【歪み検査】ドライバICの反り計測
【歪み検査】チップの傾き確認
位置決め
【自働化】ウエハ外観検査装置の位置決め
【自働化】ガラスウエハのノッチ位置検出
歪み検査
【歩留まり】ドライバICの反り計測
【歩留まり】チップの傾き確認
【工程不良】パッケージの歪み・高さ検査
高さ測定
【自働化】ICパッケージ封止前高さ測定
印字加工
【情報管理】トレイに並べたICパッケージへの印字
データ収集
【開発効率】環境試験の温度測定、電圧測定
【工場 見える化】生産設備の診断・見える化
【工場 見える化】製造装置の保守メンテ
【工場 見える化】生産データ常時記録
【工場 見える化】ロボットの立ち上げ調整
【開発効率】(基板)電子部品の特性評価
効果・目的別一覧を見る
工程不良
自働化
ポカヨケ(ポカミス)
工場 見える化
工場 コストダウン
情報管理
リードタイム
開発効率
歩留まり
工場 省エネ
品質管理
適用業界別一覧を見る
自動車 工程管理
光学部品 工程管理
電子部品 工程管理
食品・薬品 工程管理
デジタル家電 工程管理
FPD 工程管理
半導体 工程管理
太陽電池 工程管理
2次電池 工程管理
金属加工 工程管理
成形機・化成品 工程管理
用途別一覧を見る
位置決め
有無検査
外観検査
傷検査
歪み検査
文字検査
高さ測定
色検査
トレーサビリティ管理
印字加工
ほこり対策
紫外線接着
データ収集
幅測定
面振れ検査
蛇行測定
偏心検査
方向判別検査
ソリューション事例一覧
業界別事例
半導体 工程管理業界
Q-Port トップへ戻る
■事例集は無料です!
■オムロン工場の事例もあります
■こんな検査はできる?
■ほこり・静電気対策が効くポイントって?
綾部工場見学では実稼動している工場を、公開しています。オムロン綾部事業所の生産現場の抱える課題を解決していく中で蓄積された、「生産技術」「課題解決のノウハウ」をぜひご体験ください。
商品へのお問い合わせ
カタログ請求
テスト機申し込み
技術相談・お問い合わせ
お見積もり
カスタマーサポートセンターのご利用方法
ページ先頭へ戻る